Le attività di ricerca svolte presso il laboratorio riguardano l’analisi dell’affidabilità di dispositivi a semiconduttore e circuiti elettronici per applicazioni di potenza ad elevata efficienza energetica.
Tali analisi sono finalizzate allo sviluppo di tecnologie di fabbricazione di nuovi dispositivi basati sui semiconduttori come silicio, nitruro di gallio e carburo di silicio e sono svolte in collaborazione con industrie microelettriche e laboratori di ricerca di rilevanza internazionale quali STMicroelectronics e IMEC.
In particolare l’affidabilità dei dispositivi e circuiti è studiata attraverso:
- messa a punto di tecniche di caratterizzazione sperimentale dei fenomeni di degrado a breve e lungo termine che affliggono i dispositivi di potenza a semiconduttore;
- caratterizzazione sperimentale dei fenomeni di degrado, individuazione delle cause e dei meccanismi fisici microscopici che ne sono alla base;
- modellistica semi-empirica dei meccanismi di guasto dei dispositivi di potenza a semiconduttore, basata su osservazioni sperimentali e simulazione TCAD a base fisica;
- progettazione e realizzazioni prototipali di circuiti di potenza (es. convertitori DC-DC) orientati allo studio dell’affidabilità, quindi da utilizzarsi come strumenti per l’analisi in-situ degli effetti di degrado che si verificano durante il funzionamento di tali circuiti in condizioni applicative quanto più realistiche-
Settori ERC
- PE7_2 - Electrical and electronic engineering: semiconductors, components, systems
- PE7_3 - Simulation engineering and modelling
- PE7_5 - Micro- and nanoelectronics, optoelectronics
Responsabile scientifico/coordinatore: Prof. Claudio Fiegna